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Boundary Scan bei DESY 1.Begrüßung 2.Vorstellung von DESY 3.Prüfverfahren bei DESY-ZE 4.Vortrag Firma Göpel Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09.

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Präsentation zum Thema: "Boundary Scan bei DESY 1.Begrüßung 2.Vorstellung von DESY 3.Prüfverfahren bei DESY-ZE 4.Vortrag Firma Göpel Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09."—  Präsentation transkript:

1 Boundary Scan bei DESY 1.Begrüßung 2.Vorstellung von DESY 3.Prüfverfahren bei DESY-ZE 4.Vortrag Firma Göpel Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Beschleuniger | Forschung mit Photonen | Teilchenphysik Deutsches Elektronen-Synchrotron Ein Forschungszentrum der Helmholtz-Gemeinschaft

2 Prüfprobleme: Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Integrierte Schaltungen werden in Gehäusen (BGA, QFN, etc.) hergestellt, deren Pins einen mechanischen Zugriff und eine optische Kontrolle unmöglich machen, da sämtliche Anschlüsse unter dem Gehäuse verborgen sind oder ihr Rastermaß keine Kontaktierung zulässt. zum Prüftermin steht keine geeignete Software für programmierbare Bauelemente zur Verfügung Prüfung erfolgt oft nicht mehr auf Funktion, sondern nur noch gegen die Entwurfsdaten: > sind die richtigen Bauelemente bestückt? > sind alle Lötungen vorhanden? > sind alle Verbindungen vorhanden?

3 Test-/Prüfmöglichkeiten bei DESY-ZE Optische Kontrolle AOIVerschiedene Mikroskope Polar Flying Probe Tester GRS500 JTAG/ Boundary Scan - Cascon / ScanVison Test System Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Funktionstest / VDE-Test Lösungen:

4 Vielen Dank für Ihre Aufmerksamkeit Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Beschleuniger | Forschung mit Photonen | Teilchenphysik Deutsches Elektronen-Synchrotron Ein Forschungszentrum der Helmholtz-Gemeinschaft

5 Was ist Boundary Scan? Boundary Scan bedeutet soviel wie Testen in der Peripherie (at boundaries) eines Schaltkreises. Neben der Kernlogik und den Kontaktpunkten des ICs beinhaltet ein Schaltkreis zusätzliche Logik, die Boundary Scan-Zellen. Diese Boundary Scan-Zellen werden zwischen Kernlogik und den physikalischen Pins des Schaltkreises integriert. Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE TCK = Test Clock (IN) TMS = Test Mode Select (IN) TDO = OUT Test Data Out TDI = Test Data In

6 JTAG/ Boundary Scan Voraussetzungen: Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Mindestens ein Boundary Scan-fähiges Bauelement Netzliste / Partlisten / Layout-Daten / Schaltplan Modelle für BScan IC´s (BSDL Files) und Non-BScan IC´s (BSDM Files) Boundary Scan muss im Schaltungsdesign vorgesehen sein

7 Test-/Prüfmöglichkeiten bei DESY-ZE Optische Kontrolle AOIVerschiedene Mikroskope Polar Flying Probe Tester GRS500 JTAG/ Boundary Scan - Cascon / ScanVison Test System Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Funktionstest / VDE-Test Lösungen:

8 AOI Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE

9 Mikroskope Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE

10 Sichtprüfung nach IPC A610 Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Dieser Standard ist eine Zusammenstellung von Abnahmekriterien für die visuelle Inspektion elektronischer Baugruppen. Auszug aus der IPC A610

11 Polar Flying Probe Leiterplatten-Reparatursystem GRS500 Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Spezifikationen MechanischSpezifikationen Elektrisch Das GRS500 erkennt Fehlbestückungen, Kurzschlüsse, Unterbrechungen, fehlerhafte Lötstellen etc. durch eine detaillierte Analyse der dynamischen Knotenimpedanz jedes Netzes. Die Impedanz- Kennlinien des Prüflings werden mit jenen des Gutmusters verglichen und bei Toleranzüberschreitung als fehlerhaft markiert. Dieses Prüfverfahren erfordert keine Bauteilbibliotheken und kann auf sämtlichen Bauteiltechnologien angewandt werden. Quelle Handbuch GRS500

12 Polar Flying Probe Leiterplatten-Reparatursystem GRS500 Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Spezifikationen Elektrisch (Quelle GRS500 HANDBUCH) EinstellungPrüfspannungAnwendung Junction1V AC Spitzenspg. 500μA Strombegr. Zur Verwendung an Netzen mit Halbleitern und Schaltkreisen, Signaldioden, IC´s. Logic10V AC Spitzenspg. 5mA Strombegr. Zur Verwendung an den meisten Schaltkreisen. Ideal für Leuchtdioden. Eine niedrige Prüfspannung und Strombegrenzung vermeiden eine Überbelastung von Komponenten. Low10V AC Spitzenspg. 150mA Strombegr. Niederohmige Schaltkreise und Leistungsdioden. Nicht empfehlenswert für empfindliche Komponenten. Med20V AC Spitzenspg. 1mA Strombegr. Für Bauteile im mittleren Widerstandsbereich, Zenerdioden mit Durchbruchspannungen bis zu 20V. Hilfreich beim Prüfen von Dioden- Leckströmen. High50V AC Spitzenspg. 1mA Strombegr. Hochohmige Komponenten, Dioden mit Durchbruchspannungen im Bereich von 20V bis 40V, Leckstromuntersuchungen.

13 Polar Flying Probe Leiterplatten-Reparatursystem GRS500 Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Linear - Geschwindigkeit160mm/Sekunde Genauigkeit± 0.04mm über 300mm (± über 12) Auflösung0.016mm (0.0006) Wiederholgenauigkeit± 0.008mm (ca.) Minimale Pad-Größe0.2mm Abtastgeschwindigkeit5 Tests/Sekunde (abhängig von Testzeit und Verfahrweg) Hub Z-Achse (Hauptachse)100mm Hub Z-Achse (Hubmagnet)10mm Max. Flughöhe100mm Max. Boardgröße330 x 630mm Max. Abtastfläche330 x 450mm Spezifikationen Mechanisch (Quelle GRS500 HANDBUCH)


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