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Thema : Statistische Prozessregelung (SPC) von : Andy Burger.

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Präsentation zum Thema: "Thema : Statistische Prozessregelung (SPC) von : Andy Burger."—  Präsentation transkript:

1 Thema : Statistische Prozessregelung (SPC) von : Andy Burger

2 Einführung Vorbereitung Anwendung Inhalt : Ziele

3 Einführung : SPC = Methode zur Prozesslenkung Überwachung von Prozessen Regelung von Prozessen Aufgrund von Stichproben während der Fertigung Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

4 Untersuchung der Maschinenfähigkeit Gleichbleibende Einstellungen Kein Werkstoffwechsel Keine Unterbrechungen Gleiches Klima Kein Personalwechsel bei gleichbleibenden Bedingungen Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

5 Maschinenfähigkeitsindex : C m = T 6 · σ C mk = krit 3 · σ C m und C mk 1,33 Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

6 Untersuchung der Prozessfähigkeit Werkzeuge Hilfsstoffe Unterbrechungen Temperaturschwankungen Personalwechsel bei realen Bedingungen Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

7 Prozessfähigkeitsindex : C p = T 6 · σ C pk = krit 3 · σ C p und C pk 1,33 Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

8 O 12 -0,1 Beispiel : 25 Stichproben (n = 5) ; stündlich Stiftschraube m x s ,991 11, ,960 11, ,992 11,982 11,970 11,971 11,976 11,973 11,960 11,965 11,985 11,977 11,975 11,965 11,972 11,974 11,960 11,980 11,971 11,974 11,980 11,991 0,013 0,011 0,013 0,010 0,009 0,012 0,011 0,010 0,015 0,013 0,012 0,013 0,009 0,010 0,013 0,015 0,008 0,010 0,011 0,014 0,013 0,011 Einführung Vorbereitung Ziele Anwendung

9 Schätzwerte : σ = 1 m s 2 i=1 m · = si2si2 Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele = 0,0115 mm µ = xixi m i=1 · 1 m = 11,975 mm

10 Eingriffs- und Warngrenzen : OEG = µ + A E · σ OWG = µ + A W · σ M = µ UWG = µ - A W · σ UEG = µ - A E · σ OEG = B OEG · σ OWG = B OWG · σ M = a n UWG = B UWG · σ UEG = B UEG · σ für Standardabweichung s für Mittelwerte x Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

11 Shewhart - Karte B UEG 0,155 0,227 0,287 0,746 0,006 Standardabweichung s anan B OEG nB OWG B UWG 0, ,2681,7652,069 0,9401,9271,669 1,602 0,348 0,408 0,8021,1971,2640,995 0,9521,830 2,2412,8070,0310,798 Mittelwert x nAEAE AWAW ,9602,576 1,2880,980 0,8771,152 1,052 0,2770,364 0,800 Einführung Vorbereitung Ziele Anwendung

12 Auswertung : für s : OEG = 0,022 mm OWG = 0,019 mm M = 0,011 mm UWG = 0,004 mm UEG = 0,003 mm für x : OEG = 11,988 mm OWG = 11,985 mm M = 11,975 mm UWG = 11,965 mm UEG = 11,962 mm Einführung Vorbereitung Ziele OEG = µ + A E · σ OEG = 11,975mm + 1,152 · 0,0115mm =11,988mm Anwendung

13 Einführung Vorbereitung Ziele Anwendung OEG OWG M M UWG UEG TREND RUN

14 Ziele : Geeignete Prozessdokumentation Erkennung einer evtl. Änderung der Fertigungslage Ständige Prozessoptimierung aufgrund aktueller Daten Ausschuss u. Nacharbeitoptimierung => zero defect Optimierung des Prüfumfangs => Prüfkostenreduktion Verkleinerung von Terminproblemen Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

15 T 8 σ 6 σ σ µ x g (x) Normalverteilung :

16 x g (x)

17 x

18 x

19 x

20 x

21 x

22 x

23 x

24 x

25 x

26 x

27 x

28 x

29 x

30 x

31 x

32 x

33 x

34 x

35 x

36 x

37 x

38 x

39 x

40 x

41 x

42 x Außermittige Lage : krit


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