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SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 7.

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Präsentation zum Thema: "SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 7."—  Präsentation transkript:

1 SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 7

2 Test hochintegrierter Schaltungen 2 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (PPSFP) Gutsimulation

3 Test hochintegrierter Schaltungen 3 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (PPSFP) Fehlersimulation 101 Muster 1 erkennt beta Fault-Dropping, wenn weitere Muster existieren

4 Test hochintegrierter Schaltungen 4 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (PPSFP) Fehlersimulation 101 Muster 2 erkennt alpha Fault-Dropping, wenn weitere Muster existieren

5 Test hochintegrierter Schaltungen 5 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Parallel Fault) Kein Fehler erkannt

6 Test hochintegrierter Schaltungen 6 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Parallel Fault) alpha erkannt Fault-Dropping ist erst möglich, wenn alle Fehler des Pakets erkannt wurden

7 Test hochintegrierter Schaltungen 7 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Parallel Fault) beta erkannt

8 Test hochintegrierter Schaltungen 8 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Deductiv) {a/0} 10 {b/1} {b/1,d/1} {b/1,e/1} {b/1,e/1,g/1} {b/1,d/1,f/0} 011 {d/1,e/1,f/0, g/1,h/0}

9 Test hochintegrierter Schaltungen 9 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Deductiv) {a/1} 01 {b/0} {b/0,d/0} {b/0,e/0} {a/1,g/1} {b/0,d/0,f/1} 000 {a/1,g/1,b/0, d/0,f/1,h/1}

10 Test hochintegrierter Schaltungen 10 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Deductiv) {a/0} 11 {b/0} {b/0,d/0} {b/0,e/0} {a/0,b/0,e/0, g/0} {b/0,d/0,f/1} 101 {a/0,e/0,g/0, h/0}

11 Test hochintegrierter Schaltungen 11 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) uuuuu a b d e g f h 0 u 0 a/0 u 1 u b/1 u 1 u e/1 u u 1 g/1 10 b/1 10 d/1 u0 f/0 u u 1 g/1 u u 0 g/0 01 b/0 01 d/0 u1 f/1 1 u u a/1 u 0 u b/0 u 0 0 e/0 u u 0 g/0 Lokale Fehlerlisten

12 Test hochintegrierter Schaltungen 12 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) a b d e g f h a/ b/ e/ g/1 10 b/1 10 d/1 00 f/ h/ h/0 01 b/0 01 d/0 01 f/ a/ b/ e/ g/0 Events an den Eingaben

13 Test hochintegrierter Schaltungen 13 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) a b d e g f h b/ e/ g/1 10 b/1 10 d/1 00 f/ h/0 Converge

14 Test hochintegrierter Schaltungen 14 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) a b d e g f h b/ e/ g/1 10 b/1 10 d/1 00 f/ h/0 Diverge b/ e/ d/ f/ g/1

15 Test hochintegrierter Schaltungen 15 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) a b d e g f h b/ e/ g/1 10 b/1 10 d/1 00 f/0 Converge d/ f/0 Erkannte Fehler h/0

16 Test hochintegrierter Schaltungen 16 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) a b d e g f a/1 b/0e/0g/1 b/0d/0f/ b/ a/ g/ d/ f/ h/1

17 Test hochintegrierter Schaltungen 17 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) a b d e g f h a/0 b/0e/0g/0 b/0d/0f/ e/ g/ h/ a/0

18 Test hochintegrierter Schaltungen 18 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) uuuuuuu

19 Test hochintegrierter Schaltungen 19 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) u Events an den Eingaben Zustand G0:0Ausgabe G0:1

20 Test hochintegrierter Schaltungen 20 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) u Zustand G0:0Ausgabe G0:1 Event durch Fehlerinjektion Fehler erkannt Fault-Dropping möglich Kein Unterschied

21 Test hochintegrierter Schaltungen 21 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) u Event durch Fehlerinjektion und Entfernung Zustand G0:0Ausgabe G0:1 Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1 Fehler nicht erkannt

22 Test hochintegrierter Schaltungen 22 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) Event durch Fehlerentfernung und Eingaben Zustand G0:0Ausgabe G0:1 Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1 Zustand G1:0Ausgabe G0:0 Restore G0

23 Test hochintegrierter Schaltungen 23 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) Event durch Fehlerinjektion Zustand G0:0Ausgabe G0:1 Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1 Zustand G1:0Ausgabe G0:0 Restore Alpha0 Fehler erkannt


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