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SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 7.

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Präsentation zum Thema: "SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 7."—  Präsentation transkript:

1 SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 7

2 Test hochintegrierter Schaltungen 2 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (PPSFP) 101011011001100101 Gutsimulation

3 Test hochintegrierter Schaltungen 3 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (PPSFP) 101011000000100100 Fehlersimulation 101 Muster 1 erkennt beta Fault-Dropping, wenn weitere Muster existieren

4 Test hochintegrierter Schaltungen 4 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (PPSFP) 101011001001111111 Fehlersimulation 101 Muster 2 erkennt alpha Fault-Dropping, wenn weitere Muster existieren

5 Test hochintegrierter Schaltungen 5 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Parallel Fault) 111000000000111111 Kein Fehler erkannt

6 Test hochintegrierter Schaltungen 6 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Parallel Fault) 000111101000001001 alpha erkannt Fault-Dropping ist erst möglich, wenn alle Fehler des Pakets erkannt wurden

7 Test hochintegrierter Schaltungen 7 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Parallel Fault) 111111101101001101 beta erkannt

8 Test hochintegrierter Schaltungen 8 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Deductiv) {a/0} 10 {b/1} {b/1,d/1} {b/1,e/1} {b/1,e/1,g/1} {b/1,d/1,f/0} 011 {d/1,e/1,f/0, g/1,h/0}

9 Test hochintegrierter Schaltungen 9 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Deductiv) {a/1} 01 {b/0} {b/0,d/0} {b/0,e/0} {a/1,g/1} {b/0,d/0,f/1} 000 {a/1,g/1,b/0, d/0,f/1,h/1}

10 Test hochintegrierter Schaltungen 10 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Deductiv) {a/0} 11 {b/0} {b/0,d/0} {b/0,e/0} {a/0,b/0,e/0, g/0} {b/0,d/0,f/1} 101 {a/0,e/0,g/0, h/0}

11 Test hochintegrierter Schaltungen 11 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) uuuuu a b d e g f h 0 u 0 a/0 u 1 u b/1 u 1 u e/1 u u 1 g/1 10 b/1 10 d/1 u0 f/0 u u 1 g/1 u u 0 g/0 01 b/0 01 d/0 u1 f/1 1 u u a/1 u 0 u b/0 u 0 0 e/0 u u 0 g/0 Lokale Fehlerlisten

12 Test hochintegrierter Schaltungen 12 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) 10011 a b d e g f h 0 0 0 a/0 1 1 1 b/1 1 1 1 e/1 1 0 1 g/1 10 b/1 10 d/1 00 f/0 1 1 1 h/1 1 1 0 h/0 01 b/0 01 d/0 01 f/1 1 0 0 a/1 1 0 0 b/0 1 0 0 e/0 1 0 0 g/0 Events an den Eingaben

13 Test hochintegrierter Schaltungen 13 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) 10011 a b d e g f h 1 1 1 b/1 1 1 1 e/1 1 0 1 g/1 10 b/1 10 d/1 00 f/0 0 1 0 h/0 Converge

14 Test hochintegrierter Schaltungen 14 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) 10011 a b d e g f h 1 1 1 b/1 1 1 1 e/1 1 0 1 g/1 10 b/1 10 d/1 00 f/0 0 1 0 h/0 Diverge 1 0 1 b/1 1 1 1 e/1 0 0 0 d/1 0 0 0 f/0 1 1 1 g/1

15 Test hochintegrierter Schaltungen 15 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) 10011 a b d e g f h 1 1 1 b/1 1 1 1 e/1 1 0 1 g/1 10 b/1 10 d/1 00 f/0 Converge 0 0 0 d/1 0 0 0 f/0 Erkannte Fehler 0 1 0 h/0

16 Test hochintegrierter Schaltungen 16 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) 01001 a b d e g f 0 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 01 11 a/1 b/0e/0g/1 b/0d/0f/1 0 1 1 b/0 1 0 1 a/1 1 0 1 g/1 0 1 1 d/0 0 1 1 f/1 0 0 1 h/1

17 Test hochintegrierter Schaltungen 17 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Cuncurrent) 11101 a b d e g f h 0 1 0 1 0 0 1 0 0 1 1 0 01 11 a/0 b/0e/0g/0 b/0d/0f/1 0 0 0 e/0 0 0 0 g/0 1 0 0 h/0 0 0 0 a/0

18 Test hochintegrierter Schaltungen 18 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) uuuuuuu

19 Test hochintegrierter Schaltungen 19 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) 111110u Events an den Eingaben Zustand G0:0Ausgabe G0:1

20 Test hochintegrierter Schaltungen 20 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) 110010u Zustand G0:0Ausgabe G0:1 Event durch Fehlerinjektion Fehler erkannt Fault-Dropping möglich Kein Unterschied

21 Test hochintegrierter Schaltungen 21 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) 111111u Event durch Fehlerinjektion und Entfernung Zustand G0:0Ausgabe G0:1 Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1 Fehler nicht erkannt

22 Test hochintegrierter Schaltungen 22 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) 0100100 Event durch Fehlerentfernung und Eingaben Zustand G0:0Ausgabe G0:1 Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1 Zustand G1:0Ausgabe G0:0 Restore G0

23 Test hochintegrierter Schaltungen 23 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 14 (Differential) 0101111 Event durch Fehlerinjektion Zustand G0:0Ausgabe G0:1 Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1 Zustand G1:0Ausgabe G0:0 Restore Alpha0 Fehler erkannt


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