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SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen November 07 Test hochintegrierter Schaltungen Übung.

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Präsentation zum Thema: "SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen November 07 Test hochintegrierter Schaltungen Übung."—  Präsentation transkript:

1 SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen November 07 Test hochintegrierter Schaltungen Übung 2

2 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 2 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle)

3 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 3 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle)

4 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 4 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle)

5 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 5 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen

6 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 6 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen

7 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 7 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen

8 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 8 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen 2.Gezielt Testmuster für übrige Fehler erzeugen Wenn ein Testmuster gefunden (a : 1.Fehler streichen 2.Muster für übrige Fehler simulieren

9 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 9 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen 2.Gezielt Testmuster für übrige Fehler erzeugen Wenn ein Testmuster gefunden (a : 1.Fehler streichen 2.Muster für übrige Fehler simulieren sonst Fehler als untestbar markieren

10 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden 0|1

11 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) 0|1 1 Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z

12 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) 0|1 1 Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z aktivieren und nach out7 propagieren mit n=0|1 und p=1 Fehler in p wirkt sich nicht auf out7 aus (n=0|1)

13 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z aktivieren und nach out7 propagieren mit n=0|1 und p=1 Fehler in p wirkt sich nicht auf out7 aus (n=0|1) p=1 impliziert h=b=1 b=1: d und i wirken sich nicht auf out7 aus und Fehler in j wirkt sich auf Z aus h=1: l wird maskiert, Fehler in b wirkt sich auf Z aus und Fehler in b wirkt auf out8 0| Daraus folgt: (R,i7,i8,Z,out7,out8) =(0,1,0,1,0|1,1) Kein anderer Fehler erzeugt bei (0,1,0) (1,0|1,1).

14 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Transition entlang eines Pfades durch A erzeugen der im Fehlerfall das Delay überschreitet zwei Testmuster sind notwendig (t1- t2)

15 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Transition entlang eines Pfades durch A erzeugen der im Fehlerfall das Delay überschreitet zwei Testmuster sind notwendig (t1- t2) Nach 40 ns schaltet h auf 1, o und p verspätet nach 85 ns und r und out7 nach 115 ns. Diskrepanz nach 100 ns in out7 115ns T=

16 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) & b=1| |0 0 0 einzigst mögliche Diskepanz (aufgrund der AND-Brücke) b=1 b=1|0 (1 im fehlerfreiem Fall, 0 im fehlerhaftem)

17 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 5 (CO) Heuristiken für Kontrollierbarkeit und Observierbarkeit Testmustergenerator sensibilisiert Pfade um Fehler zu testen entlang der Pfade werden Entscheidungen über Signalzuweisungen getroffen Bsp.: –ist es leichter h=0 oder h=1 zusetzen –kann n oder o leichter observiert werden –Propagation über n schlägt fehl Backtracking Fehler entlang o propagieren mit SCOAP können die Pfade sortiert werden, sodass weniger Backtracking notwendig ist b

18 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 5 (CO) mit Inverterpunkt

19 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 5 (CO) SCOAP 11? 11? 11? 11? 11? 11? 11? 22? 22? 35? 35? 35? 35? 35? 27? 27? 27? 26? 314?

20 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 5 (CO) SCOAP

21 Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik b Aufgabe 5 (CO) nach SCOP können Signaländerungen in m besser observiert werden als in n, die 1-Kontrollierbarkeit ist für beide Signalleitungen gleich gut aber die 1-Kontrollierbarkeit von h ist schlechter als die 0- Kontrollierbarkeit


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