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SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen November 07 Test hochintegrierter Schaltungen Übung.

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Präsentation zum Thema: "SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen November 07 Test hochintegrierter Schaltungen Übung."—  Präsentation transkript:

1 SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen November 07 Test hochintegrierter Schaltungen Übung 4

2 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 2 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 6 (prob. Netzanalyse) Die tatsächlichen Wahrscheinlichkeiten der Summen hängen allein von der Definition der Addition ab. Die heuristisch berechneten Wahrscheinlichkeiten der Summen hängen allein von der Struktur der Schaltung ab.

3 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 3 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 6 (prob. Netzanalyse) O(a0,sn-1)=Wahrscheinlichkeit eine Signaländerung von a0 am höchstwertigsten Summenausgang zu observieren =O(a0,c1) * П {O(ci,ci+1)} * O(cn-1,sn-1) O(ci-1,ci)=p(ai=0)*p(bi=1)+p(ai=1)*p(bi=0)=0.25+0.25=0.5 O(a0,c1)= p(ai=0)*p(ci=1)+p(ai=1)*p(ci=0)=0.25+0.25=0.5 O(cn-1,sn-1)=1 O(a0,sn-1)=0.5^(n-1) 0 1 1 0 i=1..n-2

4 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 4 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT)

5 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 5 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) 3 Pins: 1.Eine Scankette (1 Scan-In + 1 Scan-Out), ein Test-Enable, Muxed D- Flip-Flop, Testmuster der zweiten Übung 2.Mehrere Scanketten mit Kompression 3.…

6 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 6 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) as@0as@1 bs@0bs@1 cs@0cs@1 ds@0ds@1 es@0es@1 fs@0fs@1 gs@0gs@1 hs@0hs@1 is@0is@1 js@0js@1 ks@0ks@1 ls@0ls@1 ms@0ms@1 ns@0ns@1 os@0os@1 ps@0ps@1 qs@0qs@1 rs@0rs@1 ss@0ss@1 Die Testmuster sind hilfreich für full scan Für jedes Muster Scan-In und Capture Modus anwenden Trotzdem gibt es redundante Fehler Ad-Hoc Kontroll- und Observierungspunkte einfügen 0 0 0 0 1 0 1 1 0 0 0 1

7 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 7 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) 116 1113 114 116 114 114 11 223 223 350 350 352 352 3511 270 277 270 268 3140 schlechte Observierbarkeiten für d, i und l jeweils ein Observierungpunkt ist zu aufwändig Knoten besitzen gute 0-Kontrollierbarkeiten Observierungpunkt für n schlechte 1-Kontrollierbarkeiten in n,p und r Kontrollpunkte in n und p

8 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 8 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) Scan-Kette für FF

9 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 9 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) Scan-Kette für FF Observierungspunkt für n

10 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 10 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) Scan-Kette für FF Observierungspunkt für n Kontrollpunkte für n und p längere Scan- Phasen Ungeschicktes Vorgehen bzgl. d. berechneten Testmuster 4. PIN

11 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 11 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) RSISE 001 001 001 011 001 100 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 R i7 i8 Scan-In Capture RSISE 101 101 101 101 111 000 Scan-In (Out) Capture Test für kombinatorische Schaltung Kontrollpunkte richtig setzen

12 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 12 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) RSISE 011 001 001 011 001 000 0 1 0 0 0 0 R i7 i8 RSISE 101 101 101 101 111 000 Test für kombinatorische Schaltung

13 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 13 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 7 (DFT) RSISE 011 001 001 011 001 000 0 1 0 0 0 0 R i7 i8 RSISE 101 101 101 101 111 000 Test für kombinatorische Schaltungweitere Haftfehler: ursprünglich redundante Fehler d,i und l können mit Prüfpfad beliebig gesetzt und über n-Observierung herausgeschoben werden für n,p,r s@0 können nun n und p auf 1 gesetzt werden Clock-Signale, Shift-Signale des Ptüfpfades, Scan-Enable Flankensteuerung, Muster 1 (0 in out8) und Muster 3 (1 in out 8)

14 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 14 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 8 (DFT) 0 u1 u2 1 u1 and u2 u1 nor u2 0 u1 and u2 u1 nor u2 Ri7i8Zout7out8 0uuuuu 11u??? 011??? Informationsverlust rs@1 kann erkannt werden

15 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 15 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 8 (DFT) 01 u1 uu 1010 u0u0u0u0 u0u0 u0 u0u0 Ri7i8Zout7out8 0uuuuu 11u000 011??? ereignisgesteuerte Simulation

16 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 16 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 8 (DFT) 0 1 10 1 00 0 0 0 0 0 Ri7i8Zout7out8 0uuuuu 11u000 011000 full scan beginnend bei i7

17 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 17 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 8 (DFT) Ri7i8Zout7out8 0uuuuu 11u000 011000 0 1 10 1 00 0 0 0 0 0 Ri7i8Zout7out8 011000 capture

18 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 18 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 8 (DFT) Ri7i8Zout7out8 000101 100??? 100??? 0 0 01 1 11 0 0 0 0 0 Ri7i8Zout7out8 011000 Scan-in und -out

19 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 19 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 8 (DFT) Ri7i8Zout7out8 000101 100000 100??? 1 0 01 0 00 0 u 0 0 0 Ri7i8Zout7out8 011000 Scan-in und -out

20 Test hochintegrierter Schaltungen November 07 20 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Scan-in und -out Aufgabe 8 (DFT) Ri7i8Zout7out8 000101 100000 100000 Ri7i8Zout7out8 011000 1 0 01 0 00 0 u 0 0 0


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