Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Boundary Scan bei DESY Begrüßung Vorstellung von DESY Prüfverfahren bei DESY-ZE Vortrag Firma Göpel Beschleuniger | Forschung mit Photonen | Teilchenphysik Deutsches Elektronen-Synchrotron Ein Forschungszentrum der Helmholtz-Gemeinschaft Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Prüfprobleme: Integrierte Schaltungen werden in Gehäusen (BGA, QFN, etc.) hergestellt, deren Pins einen mechanischen Zugriff und eine optische Kontrolle unmöglich machen, da sämtliche Anschlüsse unter dem Gehäuse verborgen sind oder ihr Rastermaß keine Kontaktierung zulässt. zum Prüftermin steht keine geeignete Software für programmierbare Bauelemente zur Verfügung Prüfung erfolgt oft nicht mehr auf Funktion, sondern nur noch gegen die Entwurfsdaten: > sind die richtigen Bauelemente bestückt? > sind alle Lötungen vorhanden? > sind alle Verbindungen vorhanden? Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Test-/Prüfmöglichkeiten bei DESY-ZE Lösungen: Optische Kontrolle Verschiedene Mikroskope AOI Polar Flying Probe Tester GRS500               JTAG/ Boundary Scan - Cascon / ScanVison Test System         Funktionstest   / VDE-Test Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Vielen Dank für Ihre Aufmerksamkeit Beschleuniger | Forschung mit Photonen | Teilchenphysik Deutsches Elektronen-Synchrotron Ein Forschungszentrum der Helmholtz-Gemeinschaft Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Was ist Boundary Scan? Boundary Scan bedeutet soviel wie „Testen in der Peripherie (at boundaries) eines Schaltkreises“. Neben der Kernlogik und den Kontaktpunkten des ICs beinhaltet ein Schaltkreis zusätzliche Logik, die Boundary Scan-Zellen. Diese Boundary Scan-Zellen werden zwischen Kernlogik und den physikalischen Pins des Schaltkreises integriert. www.elektronikpraxis.vogel.de TCK = Test Clock (IN) TMS = Test Mode Select (IN) TDO = OUT Test Data Out TDI = Test Data In Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

JTAG/ Boundary Scan Voraussetzungen: Mindestens ein Boundary Scan-fähiges Bauelement Netzliste / Partlisten / Layout-Daten / Schaltplan Modelle für BScan IC´s (BSDL Files) und Non-BScan IC´s (BSDM Files) Boundary Scan muss im Schaltungsdesign vorgesehen sein Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Test-/Prüfmöglichkeiten bei DESY-ZE Lösungen: Optische Kontrolle Verschiedene Mikroskope AOI Polar Flying Probe Tester GRS500               JTAG/ Boundary Scan - Cascon / ScanVison Test System         Funktionstest   / VDE-Test Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE AOI Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE Mikroskope Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Sichtprüfung nach IPC A610 Dieser Standard ist eine Zusammenstellung von Abnahmekriterien für die visuelle Inspektion elektronischer Baugruppen. Auszug aus der IPC A610 Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Polar Flying Probe Leiterplatten-Reparatursystem GRS500 Das GRS500 erkennt Fehlbestückungen, Kurzschlüsse, Unterbrechungen, fehlerhafte Lötstellen etc. durch eine detaillierte Analyse der dynamischen Knotenimpedanz jedes Netzes. Die Impedanz-Kennlinien des Prüflings werden mit jenen des Gutmusters verglichen und bei Toleranzüberschreitung als fehlerhaft markiert. Dieses Prüfverfahren erfordert keine Bauteilbibliotheken und kann auf sämtlichen Bauteiltechnologien angewandt werden. Quelle Handbuch GRS500 Spezifikationen Elektrisch Spezifikationen Mechanisch Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Polar Flying Probe Leiterplatten-Reparatursystem GRS500 Spezifikationen Elektrisch (Quelle GRS500 HANDBUCH) Einstellung Prüfspannung Anwendung Junction 1V AC Spitzenspg. 500μA Strombegr. Zur Verwendung an Netzen mit Halbleitern und Schaltkreisen, Signaldioden, IC´s. Logic 10V AC Spitzenspg. 5mA Strombegr. Zur Verwendung an den meisten Schaltkreisen. Ideal für Leuchtdioden. Eine niedrige Prüfspannung und Strombegrenzung vermeiden eine Überbelastung von Komponenten. Low 10V AC Spitzenspg. 150mA Strombegr. Niederohmige Schaltkreise und Leistungsdioden. Nicht empfehlenswert für empfindliche Komponenten. Med 20V AC Spitzenspg. 1mA Strombegr. Für Bauteile im mittleren Widerstandsbereich, Zenerdioden mit Durchbruchspannungen bis zu 20V. Hilfreich beim Prüfen von Dioden-Leckströmen. High 50V AC Spitzenspg. 1mA Strombegr. Hochohmige Komponenten, Dioden mit Durchbruchspannungen im Bereich von 20V bis 40V, Leckstromuntersuchungen. Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09

Polar Flying Probe Leiterplatten-Reparatursystem GRS500 Spezifikationen Mechanisch (Quelle GRS500 HANDBUCH) Linear - Geschwindigkeit 160mm/Sekunde Genauigkeit ± 0.04mm über 300mm (± 0.0016” über 12”) Auflösung 0.016mm (0.0006”) Wiederholgenauigkeit ± 0.008mm (ca.) Minimale Pad-Größe 0.2mm Abtastgeschwindigkeit 5 Tests/Sekunde (abhängig von Testzeit und Verfahrweg) Hub Z-Achse (Hauptachse) 100mm Hub Z-Achse (Hubmagnet) 10mm Max. Flughöhe Max. Boardgröße 330 x 630mm Max. Abtastfläche 330 x 450mm Service Zentrum Elektronik - DESY-ZE 27.10.09