SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen November 07 Test hochintegrierter Schaltungen Übung 2

Test hochintegrierter Schaltungen November 07 2 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle)

Test hochintegrierter Schaltungen November 07 3 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle)

Test hochintegrierter Schaltungen November 07 4 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle)

Test hochintegrierter Schaltungen November 07 5 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen

Test hochintegrierter Schaltungen November 07 6 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen

Test hochintegrierter Schaltungen November 07 7 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen

Test hochintegrierter Schaltungen November 07 8 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen 2.Gezielt Testmuster für übrige Fehler erzeugen Wenn ein Testmuster gefunden (a : 1.Fehler streichen 2.Muster für übrige Fehler simulieren

Test hochintegrierter Schaltungen November 07 9 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Zufallsvektoren simulieren getestete Fehler streichen 2.Gezielt Testmuster für übrige Fehler erzeugen Wenn ein Testmuster gefunden (a : 1.Fehler streichen 2.Muster für übrige Fehler simulieren sonst Fehler als untestbar markieren

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden 0|1

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) 0|1 1 Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) 0|1 1 Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z aktivieren und nach out7 propagieren mit n=0|1 und p=1 Fehler in p wirkt sich nicht auf out7 aus (n=0|1)

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z aktivieren und nach out7 propagieren mit n=0|1 und p=1 Fehler in p wirkt sich nicht auf out7 aus (n=0|1) p=1 impliziert h=b=1 b=1: d und i wirken sich nicht auf out7 aus und Fehler in j wirkt sich auf Z aus h=1: l wird maskiert, Fehler in b wirkt sich auf Z aus und Fehler in b wirkt auf out8 0| Daraus folgt: (R,i7,i8,Z,out7,out8) =(0,1,0,1,0|1,1) Kein anderer Fehler erzeugt bei (0,1,0) (1,0|1,1).

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Transition entlang eines Pfades durch A erzeugen der im Fehlerfall das Delay überschreitet zwei Testmuster sind notwendig (t1- t2)

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) Transition entlang eines Pfades durch A erzeugen der im Fehlerfall das Delay überschreitet zwei Testmuster sind notwendig (t1- t2) Nach 40 ns schaltet h auf 1, o und p verspätet nach 85 ns und r und out7 nach 115 ns. Diskrepanz nach 100 ns in out7 115ns T=

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 4 (Fehlermodelle) & b=1| |0 0 0 einzigst mögliche Diskepanz (aufgrund der AND-Brücke) b=1 b=1|0 (1 im fehlerfreiem Fall, 0 im fehlerhaftem)

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 5 (CO) Heuristiken für Kontrollierbarkeit und Observierbarkeit Testmustergenerator sensibilisiert Pfade um Fehler zu testen entlang der Pfade werden Entscheidungen über Signalzuweisungen getroffen Bsp.: –ist es leichter h=0 oder h=1 zusetzen –kann n oder o leichter observiert werden –Propagation über n schlägt fehl Backtracking Fehler entlang o propagieren mit SCOAP können die Pfade sortiert werden, sodass weniger Backtracking notwendig ist b

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 5 (CO) mit Inverterpunkt

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 5 (CO) SCOAP 11? 11? 11? 11? 11? 11? 11? 22? 22? 35? 35? 35? 35? 35? 27? 27? 27? 26? 314?

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 5 (CO) SCOAP

Test hochintegrierter Schaltungen November Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik b Aufgabe 5 (CO) nach SCOP können Signaländerungen in m besser observiert werden als in n, die 1-Kontrollierbarkeit ist für beide Signalleitungen gleich gut aber die 1-Kontrollierbarkeit von h ist schlechter als die 0- Kontrollierbarkeit