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Auge System von gekrümmten Grenzflächen (Linsen) Zweck: Abbildung auf Detektor mit hoher Empfindlichkeit Vergrößerung, Verkleinerung, Lichtstärke Reduktion.

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Präsentation zum Thema: "Auge System von gekrümmten Grenzflächen (Linsen) Zweck: Abbildung auf Detektor mit hoher Empfindlichkeit Vergrößerung, Verkleinerung, Lichtstärke Reduktion."—  Präsentation transkript:

1 Auge System von gekrümmten Grenzflächen (Linsen) Zweck: Abbildung auf Detektor mit hoher Empfindlichkeit Vergrößerung, Verkleinerung, Lichtstärke Reduktion von Abbildungsfehlern 4.4 Optische Instrumente

2 Dioptrischer Apparat Auge ( ) = Hornhaut + Linse = 42,8 dpt + 15,8 dpt = 58,6 dpt dicke Linse mit Hauptebenen H und H Knotenpunkten K und K unendlich adaptiert Kleinkind =14,2dpt a>7cm Erwachsene =4,2dpt a>24cm Gegenstand nah: Zusatzbrechkraft Variation der Augenlinse Bereich für Scharfsehen fest Physikalisches System Auge

3 Myopie Hypermetropie Fehlsichtigkeit weniger Brechkraft mehr Brechkraft

4 Bildebene P variierbare Blende PP2P2 P1P1 Bild P 1 Bild P 2 FF Toleranz für scharf Bedeutung der Pupille Tiefenschärfe Punktraster Netzhaut

5 Zellstruktur der Netzhaut: Zäpfchenabstand 5µm kleinster auflösbarer Sehwinkel 1 oder 1 Bogenminute Entfernung 25cm 2 Punkte mindestens Abstand von 0,08mm Lupe Sehwinkel vergrößern natürliche Sehweite ohne Lupe mit Lupe Vergrößerung: Grenzen der Anwendung? Auflösungsvermögen des Auges Hilfsmittel?

6 Hintergrund linkes Auge Augenspiegel Auge und Linse als optisches System dicke Linse

7 Beleuchtungsarten Grenzen durch die Wellennatur des Lichtes erweiterte Methoden: Phasenkontrastverfahren (Zernike 1932) Polarisationsmikroskopie Mikroskop

8 Beleuchtung mit Licht kleiner Wellenlänge Röntgenmikroskopie Beleuchtung mit Wellen kleiner Wellenlänge Materiewellen, Elektronenmikroskop Abbildung in geometrischen Abmessungen, so daß die Beugung und Interferenz sich nicht ausbilden kann Nahfeldmikroskopie Methoden zur Steigerung des Auflösungsvermögen Rastertunnelmikroskopie (STM) Rasterkraftmikroskopie (AFM) STM surface tunneling microscope AFM atomic force microscope Farben Ruska, Nobelpreis 1986 Abtasten des Objektes mit kleiner Sonde Rastermikroskopie Binnig, Rohrer, Nobelpreis 1986


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