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SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 9.

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Präsentation zum Thema: "SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 9."—  Präsentation transkript:

1 SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Test hochintegrierter Schaltungen Übung 9

2 Test hochintegrierter Schaltungen 2 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler)

3 Test hochintegrierter Schaltungen 3 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler) Redundante Fehler (siehe Aufgabe 4): d/0,d/1,i/0,i/1,l/0,l/1, n/0,p/0,r/0

4 Test hochintegrierter Schaltungen 4 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler)  Boolesche Differenz: aktivierbar observierbar simultan aktivierbar und observierbar

5 Test hochintegrierter Schaltungen 5 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler) Nicht observierbare Fehler: r/0 Ableitung ist 0

6 Test hochintegrierter Schaltungen 6 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 17 (nicht testbare Fehler) Nicht aktivierbar Fehler: r/0 r=0 Simultan nicht aktivierbar und observierbar: n/0,p/0 Nur die Konjunktion ist 0

7 Test hochintegrierter Schaltungen 7 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen 5-wertige vs. 9-wertige Logik)

8 Test hochintegrierter Schaltungen 8 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Single Path Propagation D D D 0 X 0 0  Single Path Propagation mit 5- wertiger Logik: 2=D rechtfertigen: b=c=0 Pfad 2-6-8: d=4=5=7=0 d=4=5=7=0 rechtfertigen Widerspruch über a Pfad:2-5-8 analog X X

9 Test hochintegrierter Schaltungen 9 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Multiple Path Propagation D D D D  Multiple Path Propagation mit 5-wertiger Logik: 2=D rechtfertigen: b=c=0 Propagation über 5 und 6 d=4=7=0 rechtfertigen Justifizieren mit a=0  Test gefunden

10 Test hochintegrierter Schaltungen 10 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen 5-wertige vs. 9-wertige Logik)  Algorithmus: Fehler in jedem Takt injizieren und in Takt 0 aktivieren Fehler zu einem Ausgang propagieren (ev. über mehrere Takte hinweg) und justifizieren (ev. über mehrere Takte hinweg) PPI im frühesten Takt kann nicht kontrolliert werden t=0 t=1 t=-1 t=2

11 Test hochintegrierter Schaltungen 11 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik 0|1 X|1 0|1 X|1 0|X X|1 X|X 0|X 0|0 X|X Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen 5-wertige vs. 9-wertige Logik)  9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1): Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0, a[1]=X) t=0 t=1 t=-1 t=2

12 Test hochintegrierter Schaltungen 12 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen 5-wertige vs. 9-wertige Logik)  9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1): Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0, a[1]=X)  5-wertige Logik: Injektion und Aktivierung 0|1 X X X X X X X X X X X X X 0 X X

13 Test hochintegrierter Schaltungen 13 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen 5-wertige vs. 9-wertige Logik)  9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1): Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0, a[1]=X)  5-wertige Logik: Injektion und Aktivierung Propagation zu b[1] 0|1 X 0 X X X X 0 Kann nicht justifiziert werden

14 Test hochintegrierter Schaltungen 14 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen 5-wertige vs. 9-wertige Logik) 0|1 1 X 1 1 X X X X X 1 Kann nicht justifiziert werden  9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1): Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0, a[1]=X)  5-wertige Logik: Injektion und Aktivierung Propagation zu b[1]

15 Test hochintegrierter Schaltungen 15 Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik Aufgabe 18 (Test sequentieller Schaltungen 5-wertige vs. 9-wertige Logik) 0|1 X X X X X 0 X 0 Kann nicht justifiziert werden  9-wertige Logik (0|X,1|X,X|0,X|1): Im Bsp.: Fehlerinjektion, Aktivierung und Implikation ergibt Testsequenz (a[0]=0, a[1]=X)  5-wertige Logik: Injektion und Aktivierung Propagation zu b[1]


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