Geometrie am Gerät und in der Ewald-Konstruktion Eine Anwendung des Streudreiecks
Inhalt Orientierung einer (00l) orientierte Platte auf dem Diffraktometer, Ziel: Beugung am Si-Reflex (004), 2θ=69,130°, a=5,431 Å, λCuKAlpha=1,542 Å Methode: Ewald Konstruktion zur Messung der Intensität am Reflex (004)
Si (004) – Cu Kα: Ausgangsstellung (Reflex erscheint nicht) Beugung am Si-Reflex (004), 2θ=69,130°, a=5,431 Å, λCuKAlpha=1,542 Å links oben: (00l) orientierte Platte auf dem Diffraktometer, rechts unten: Ewald Konstruktion zur Messung der Intensität am Reflex (004) Die Achse ω stehe senkrecht zur Zeichenebene, ω004=35° - Maus-Klick startet die Animation
Si (004) – Cu K Alpha Beugung am Si-Reflex (004), 2θ=69,130°, a=5,431 Å, λCuKAlpha=1,542 Å links oben: (00l) orientierte Platte auf dem Diffraktometer, rechts unten: Ewald Konstruktion zur Messung der Intensität am Reflex (004) Die Achse ω stehe senkrecht zur Zeichenebene, ω004=35°
Zusammenfassung Die Ewald-Konstruktion dient der Berechnung der Orientierung der Kristalle, um Beugung an einem bestimmten Reflex, hier dem Si-Reflex (004), zu erreichen Die Drehwinkel übertragen sich vom direkten in den reziproken Raum Vermeiden Sie, beide Räume zu mischen, z. B. Kristalle oder Teile des Geräts in die Ewaldkugel einzuzeichnen