Transmission Electron Microscope EM 902 ( Zeiss ) Spezifikationen: Beschleunigungsspannung: 80 kV Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,344 nm - garantierte Punktauflösung: 0,5 nm
Transmission Electron Microscope JEM-1011 ( JEOL) Spezifikationen: Beschleunigungsspannung: 40 - 100 kV Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,2 nm - garantierte Punktauflösung: 0,4 nm
UltraHigh-Resolution Transmission Electron Microscope JEM-2200FS ( JEOL) Spezifikationen: Beschleunigungsspannung: 80 - 200 kV TEM Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,10 nm - garantierte Punktauflösung: 0,19 nm STEM Auflösung - garantierte Punktauflösung: 0, 2 nm Energiedispersive Röntgenanalys (EDX) Elektronen-Eneergieverlustspektroskopie (EELS) Tomographie
Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop S- 4800 (Hitachi) REM deutsch Spezifikationen: Hochauflösung 1.0 nm / 15 kV 1.4 nm / 1 kV EDX- System: Thermo - NORAN system SIX (Energiedispersive Röntgenstrahl Mikroanalyse) Kryopräparationssystem: Gatan – Alto 2500-S EBSD- System: HKL - Channel 5 (Elektronenrückstreubeugung) STEM Imaging