Kühlung einer Testapparatur für Sensorchips

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<Fügen Sie den Titel des Problems ein>
 Präsentation transkript:

Kühlung einer Testapparatur für Sensorchips Von Julian Bender und Marc Syväri

Inhalt Test von bestrahlten Detektoren Peltier-Element & MPT 10000 Regelkreislauf Versuchsaufbau Messergebnisse CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Test von Detektoren mit Lasern Genauer drauf eingehen CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Test von bestrahlten Detektoren Überprüfung von bestrahlten Detektoren mit Lasern Wärmeabgabe durch Detektor und Front-End Chip Strahlenschäden größerer Blindstrom  stärkere Wärmeentwicklung  größerer Blindstrom  …  Kühlung des Detektors notwendig CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Kühlung des Detektors Notwendige Temperaturen: -30°C Problem: Versuchsaufbau nicht für solche Temperaturen geeignet  Verwendung eines Peltier-Elementes CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Peltier-Element CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Aufbau eines Peltier-Elements Alternierende Verbindung zwischen n und p-dotierten Halbleitern Höhere Temperaturdifferenz möglich Keramikplatte Beschriftung Halbleiter Keramikplatte CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Peltier-Effekt „Wärmepumpe“ Wechsel des Energieniveaus Kühlung/Erwärmung der anliegender Keramikplatten Verwendung von Halbleitern Änderung der Farbe (kalt+warm) CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

MPT 10000 Steuerung des Peltier-Elements Bestimmung einer Zieltemperatur Kontrolle der Zieltemperatur Nachregelung bei Temperaturschwankungen CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Regelkreis In sich geschlossener Wirkungskreislauf für die Regelung einer physikalischen Größe Bedeutung: Beibehaltung eines konstanten Wertes unter Umwelteinflüssen CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Regelkreis CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Regelkreis Messen der Regelgröße Erkennen einer Abweichung  Vergleich mit Sollwert Erkennen einer Abweichung Einleiten des Verstellvorgangs Kontrolle durch erneutes Messen CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Probleme Zu schwache Gegenregelung: sehr langsame Korrektur der Abweichung Zu starke Gegenregelung/verzögerte Messung: “Überregelung“Überschwingung  System gerät ins Schwingen CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Aufbau der Schaltung CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender Beschriftung TE Module CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Messung der Temperaturänderung Anbringen von Wärmesensoren auf kalter Peltier-Seite, sowie dem Kühlkörper Auslese mit Power Supply und LabView Vergrößerung/heller machen der Bilder CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Verschiedene Kühlkörper Aluminium-Kühlkörper auf Kupferblock Aluminium-Kühlkörper Kupferblock Kupferblock auf Aluminium-Kühlkörper CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Kühlung durch Kupferblock/Aluminium-Kühlkörper CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Kühlung mit Hilfe eines Chillers Kühlung der wärmeren Seite auf -20°C  Auf der kalten Seite Temperaturen bis -40°C möglich CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Kühlung durch Chiller CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender Wahl der Farbe CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender

Vielen Dank für das Praktikum am CERN CERN-Praktikum 2012 Marc Syväri, Julian Bender