Statistische Prozessregelung (SPC)

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1 Statistische Prozessregelung (SPC)
Thema : Statistische Prozessregelung (SPC) von : Andy Burger

2 Inhalt : Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

3 SPC = Methode zur Prozesslenkung
Einführung : SPC = Methode zur Prozesslenkung Einführung Überwachung von Prozessen Regelung von Vorbereitung Aufgrund von Stichproben während der Fertigung Anwendung Ziele

4 Untersuchung der Maschinenfähigkeit
bei gleichbleibenden Bedingungen Einführung Gleichbleibende Einstellungen Vorbereitung Kein Werkstoffwechsel Keine Unterbrechungen Anwendung Gleiches Klima Ziele Kein Personalwechsel

5 Maschinenfähigkeitsindex :
Cm = T 6 · σ Einführung Vorbereitung Cmk = ∆ krit 3 · σ Anwendung Ziele Cm und Cmk ≥ 1,33

6 Untersuchung der Prozessfähigkeit
bei realen Bedingungen Einführung Werkzeuge Vorbereitung Hilfsstoffe Unterbrechungen Anwendung Temperaturschwankungen Ziele Personalwechsel

7 Prozessfähigkeitsindex :
Cp = T 6 · σ Einführung Vorbereitung Cpk = ∆ krit 3 · σ Anwendung Ziele Cp und Cpk ≥ 1,33

8 Beispiel : Stiftschraube 25 Stichproben (n = 5) ; stündlich O 12 -0,1
m x s 1 2 3 5 7 8 4 9 13 10 11,991 11,985 11 12 14 11,960 11,965 15 16 22 21 24 20 25 23 19 18 17 6 11,992 11,982 11,970 11,971 11,976 11,973 11,977 11,975 11,972 11,974 11,980 0,013 0,011 0,010 0,009 0,012 0,015 0,008 0,014 O 12 -0,1 Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

9 √ · · Schätzwerte : µ = xi 1 = 11,975 mm σ = 1 m s 2 = si2 = 0,0115 mm
µ = xi m i=1 1 = 11,975 mm Einführung Vorbereitung σ = 1 m s 2 i=1 √ = si2 Anwendung = 0,0115 mm Ziele

10 Eingriffs- und Warngrenzen :
für Mittelwerte x OEG = µ + A E · σ OWG = µ + A W· σ M = µ UWG = µ - A W · σ UEG = µ - A E · σ Einführung Vorbereitung für Standardabweichung s Anwendung OEG = B OEG · σ OWG = B OWG· σ M = a n UWG = B UWG· σ UEG = B UEG· σ Ziele

11 Shewhart - Karte Mittelwert x Standardabweichung s n AE AW 4 1 5 6 50
1,960 2,576 1,288 0,980 0,877 1,152 1,052 0,277 0,364 0,800 BUEG 0,155 0,227 0,287 0,746 0,006 Standardabweichung s an BOEG 5 6 4 2 n BOWG BUWG 0,921 50 0,268 1,765 2,069 0,940 1,927 1,669 1,602 0,348 0,408 0,802 1,197 1,264 0,995 0,952 1,830 2,241 2,807 0,031 0,798 Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

12 Auswertung : für s : für x : OEG = µ + A E · σ
OEG = 11,975mm + 1,152 · 0,0115mm =11,988mm Einführung für s : OEG = 0,022 mm OWG = 0,019 mm M = 0,011 mm UWG = 0,004 mm UEG = 0,003 mm für x : OEG = 11,988 mm OWG = 11,985 mm M = 11,975 mm UWG = 11,965 mm UEG = 11,962 mm Vorbereitung Anwendung Ziele

13 TREND RUN Zweispurige Qualitätsregelkarte Einführung Vorbereitung
Auswerteblatt x-Karte s-Karte Zeit Datum Merkmal : Einheit : Stichprobenumfang : O 12 -0,1 mm n = 5 TREND OEG OWG M UWG UEG RUN Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

14 Ziele : Geeignete Prozessdokumentation
Einführung Erkennung einer evtl. Änderung der Fertigungslage Vorbereitung Ständige Prozessoptimierung aufgrund aktueller Daten Ausschuss u. Nacharbeitoptimierung => zero defect Anwendung Optimierung des Prüfumfangs => Prüfkostenreduktion Ziele Verkleinerung von Terminproblemen

15 Normalverteilung : T σ 6 σ σ x g(x)

16 x g(x)

17 x g(x)

18 x g(x)

19 x g(x)

20 x g(x)

21 x g(x)

22 x g(x)

23 x g(x)

24 x g(x)

25 x g(x)

26 x g(x)

27 x g(x)

28 x g(x)

29 x g(x)

30 x g(x)

31 x g(x)

32 x g(x)

33 x g(x)

34 x g(x)

35 x g(x)

36 x g(x)

37 x g(x)

38 x g(x)

39 x g(x)

40 x g(x)

41 x g(x)

42 Außermittige Lage : ∆ krit x g(x)