Statistische Prozessregelung (SPC) Thema : Statistische Prozessregelung (SPC) von : Andy Burger

Inhalt : Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

SPC = Methode zur Prozesslenkung Einführung : SPC = Methode zur Prozesslenkung Einführung Überwachung von Prozessen Regelung von Vorbereitung Aufgrund von Stichproben während der Fertigung Anwendung Ziele

Untersuchung der Maschinenfähigkeit bei gleichbleibenden Bedingungen Einführung Gleichbleibende Einstellungen Vorbereitung Kein Werkstoffwechsel Keine Unterbrechungen Anwendung Gleiches Klima Ziele Kein Personalwechsel

Maschinenfähigkeitsindex : Cm = T 6 · σ Einführung Vorbereitung Cmk = ∆ krit 3 · σ Anwendung Ziele Cm und Cmk ≥ 1,33

Untersuchung der Prozessfähigkeit bei realen Bedingungen Einführung Werkzeuge Vorbereitung Hilfsstoffe Unterbrechungen Anwendung Temperaturschwankungen Ziele Personalwechsel

Prozessfähigkeitsindex : Cp = T 6 · σ Einführung Vorbereitung Cpk = ∆ krit 3 · σ Anwendung Ziele Cp und Cpk ≥ 1,33

Beispiel : Stiftschraube 25 Stichproben (n = 5) ; stündlich O 12 -0,1 m x s 1 2 3 5 7 8 4 9 13 10 11,991 11,985 11 12 14 11,960 11,965 15 16 22 21 24 20 25 23 19 18 17 6 11,992 11,982 11,970 11,971 11,976 11,973 11,977 11,975 11,972 11,974 11,980 0,013 0,011 0,010 0,009 0,012 0,015 0,008 0,014 O 12 -0,1 Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

√ · · Schätzwerte : µ = xi 1 = 11,975 mm σ = 1 m s 2 = si2 = 0,0115 mm µ = xi m i=1 · 1 = 11,975 mm Einführung Vorbereitung σ = 1 m s 2 i=1 · √ = si2 Anwendung = 0,0115 mm Ziele

Eingriffs- und Warngrenzen : für Mittelwerte x OEG = µ + A E · σ OWG = µ + A W· σ M = µ UWG = µ - A W · σ UEG = µ - A E · σ Einführung Vorbereitung für Standardabweichung s Anwendung OEG = B OEG · σ OWG = B OWG· σ M = a n UWG = B UWG· σ UEG = B UEG· σ Ziele

Shewhart - Karte Mittelwert x Standardabweichung s n AE AW 4 1 5 6 50 1,960 2,576 1,288 0,980 0,877 1,152 1,052 0,277 0,364 0,800 BUEG 0,155 0,227 0,287 0,746 0,006 Standardabweichung s an BOEG 5 6 4 2 n BOWG BUWG 0,921 50 0,268 1,765 2,069 0,940 1,927 1,669 1,602 0,348 0,408 0,802 1,197 1,264 0,995 0,952 1,830 2,241 2,807 0,031 0,798 Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

Auswertung : für s : für x : OEG = µ + A E · σ OEG = 11,975mm + 1,152 · 0,0115mm =11,988mm Einführung für s : OEG = 0,022 mm OWG = 0,019 mm M = 0,011 mm UWG = 0,004 mm UEG = 0,003 mm für x : OEG = 11,988 mm OWG = 11,985 mm M = 11,975 mm UWG = 11,965 mm UEG = 11,962 mm Vorbereitung Anwendung Ziele

TREND RUN Zweispurige Qualitätsregelkarte Einführung Vorbereitung Auswerteblatt x-Karte s-Karte Zeit Datum Merkmal : Einheit : Stichprobenumfang : O 12 -0,1 mm n = 5 TREND OEG OWG M UWG UEG RUN Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

Ziele : Geeignete Prozessdokumentation Einführung Erkennung einer evtl. Änderung der Fertigungslage Vorbereitung Ständige Prozessoptimierung aufgrund aktueller Daten Ausschuss u. Nacharbeitoptimierung => zero defect Anwendung Optimierung des Prüfumfangs => Prüfkostenreduktion Ziele Verkleinerung von Terminproblemen

Normalverteilung : T 8 σ 6 σ σ µ x g(x)

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Außermittige Lage : ∆ krit x g(x)