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Transmission Electron Microscope
EM 902 ( Zeiss ) Spezifikationen: Beschleunigungsspannung: 80 kV Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,344 nm - garantierte Punktauflösung: 0,5 nm
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Transmission Electron Microscope
JEM-1011 ( JEOL) Spezifikationen: Beschleunigungsspannung: kV Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,2 nm - garantierte Punktauflösung: 0,4 nm
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UltraHigh-Resolution Transmission Electron Microscope
JEM-2200FS ( JEOL) Spezifikationen: Beschleunigungsspannung: kV TEM Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,10 nm - garantierte Punktauflösung: 0,19 nm STEM Auflösung - garantierte Punktauflösung: 0, 2 nm Energiedispersive Röntgenanalys (EDX) Elektronen-Eneergieverlustspektroskopie (EELS) Tomographie
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Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop
S (Hitachi) REM deutsch Spezifikationen: Hochauflösung nm / 15 kV 1.4 nm / 1 kV EDX- System: Thermo - NORAN system SIX (Energiedispersive Röntgenstrahl Mikroanalyse) Kryopräparationssystem: Gatan – Alto 2500-S EBSD- System: HKL - Channel 5 (Elektronenrückstreubeugung) STEM Imaging
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